| НАЦІОНАЛЬНИЙ УНІВЕРСИТЕТ «ЗАПОРІЗЬКА ПОЛІТЕХНІКА»

Ви є тут

Освітня програма "Інтелектуальні технології мікросистемної радіоелектронної техніки" спеціальність 172 Телекомунікації та радіотехніка

Спеціальність 172 Електронні комунікації та радіотехніка
Освітня програма "Інтелектуальні технології мікросистемної радіоелектронної техніки" (другий (магістерський) рівень)
Результати опитувань здобувачів освіти в узагальненому вигляді (грудень 2023 р):

Опитування випускників та роботодавців:

Прохання до стейкхолдерів ознайомитись із проєктом освітньої програми та надати свої відгуки, рецензії, зауваження та пропозиції за посиланням: https://docs.google.com/forms/d/e/1FAIpQLSf3AiWoruNV0WCBunsuYlNS8DHEMjvS...

Файл:

rt-510sp_nadvorna.xls

rt-519_hudziy.xls

rt-518_belynska.xls

oleksii_shevchenko_onshape_fundamentals_data_management_certificate_copy.pdf

oleksii-shevchenko-introduction-to-cad-certificate_copy.pdf

onshape_cad_copy.pdf

transition_to_cloud-based_fusion_360_copy.pdf

zestart_shevchenko.jpg

yak_stvoryty_masovyy_vidkrytyy_onlayn_kurs.pdf

mediagramotnist_dlya_osvityan.pdf

navchaymos_vchytys.pdf

rt-518sp_buchko.xls

vytyag_z_protokolu_5_ot_23_01_20.pdf

op_itmrt_bak_proekt_21.pdf

vytyag_z_protokolu_8_ot_01_02_21.pdf

opp_172_5_2017_1.docx

nuzp_id_programm_17_11_2020_1.pdf

vytyag_z_protokolu_6_ot_20_02_20.pdf

informaciya_premiyuvannya_itez.pdf

2023_172_vnutrishnye_zabezpechennya_yakosti_osvitnoyi_programy.pdf

2023_172_kontrolni_zahody_ocinyuvannya_zdobuvachiv_vyshchoyi_osvity_ta_akademichna_dobrochesnist_.pdf

2023_172_ocinka_vykladannya_navchalnyh_dyscyplin.pdf

vytyag_z_protokolu_4_27_12_23.pdf

172_robotodavci.pdf

2024_172_opytuvannya_vypusknykiv_shchodo_yakosti_osvity.pdf

2024_172_opytuvannya_vypusknykiv_shchodo_roboty.pdf

vytyag_z_protokolu_zasidannya_kafedry_2_25_10_24.pdf

Вибірковий блок дисциплін кафедри МЕВ №3 (силабуси)

Файл:

ВК1_силабус_ Історія_України_в_персоналіях

ВК3_силабус_Соціологія

ВК4_силабус_ФілосВиміриСучСв

ВК5_силабус_Культурологія

ВК6_силабус_ЗЗтаЖЛ_ОП

ВК7_Самоменджмент_РП

ВК9_силабус_Друга іноземна мова (нім) за проф спрямуванням

ВК11_Антикризове управління_РП_силабус

ВК12_силабус_Облік ЗЕД бізнес-структур

ВК13_силабус_ЕІО

Вибірковий блок дисциплін кафедри МЕВ №2 (силабуси)

Файл:

ВК1_силабус_Історія укр державності

ВК3_силабус_Правознавство

ВК4_силабус_ЛЮДИНА І СВІТ (філос. дискурс)

ВК5_силабус_УКЄК

ВК6_силабус_ЗЖСПЛ_ОП

ВК7_Психологія управління та конфліктологія_РП_силабус

ВК8_Міжнародне публічне управління_РП_силабус

ВК9_силабус_Ділова друга іноземна мова (німецька)

ВК10_Електронні послуги на місцевому рівні_РП_силабус

ВК11_Інвест.рег.розв_РП_силабус

ВК12_Економіка та фінанси підприємства_РП_силабус

ВК13_Мен-т_підпр.у_ сфері_послуг_РП

Робочі програми для бакалаврів ГФ

Файл:

Робоча програма "БЖД фахівця з ООП" (Міжнародний бізнес)

Робоча програма "Захист життєвого середовища перебування людини та охорона праці" (Міжнародний бізнес)

Робоча програма "Захист здоров’я та життя людини з основами охорони праці" (Міжнародний бізнес)

Робочі програми для бакалаврів ФКНТ

Файл:

Робоча програма "БЖД фахівця з ООП" (Системний аналіз)

Розклад занять, консультацій та іспитів кафедри «Інформаційна безпека та наноелектроніка»

Графік навчального процесу

Звичайна програма	Скорочена програма	Етап навчального процесу
01.09.21 — 10.10.21	Теоретичне навчання
11.10.21 — 17.10.21	Рубіжний контроль
18.10.21 — 05.12.21	Теоретичне навчання
06.12.21 — 12.12.21	Рубіжний контроль
13.12.21 — 26.12.21	Сессія
27.12.21 — 16.01.22	Канікули
17.01.22 — 23.01.22	17.01.22 — 30.01.22	Сессія
24.01.22 — 30.01.22	—	Канікули
31.01.22 — 27.03.22	Теоретичне навчання
28.03.22 — 03.04.22	Рубіжний контроль
04.04.22 — 15.05.22	Теоретичне навчання
16.05.22 — 22.05.22	Рубіжний контроль
23.05.22 — 12.06.22	23.05.22 — 19.06.22	Сессія
13.06.22 — 28.08.22	20.06.22 — 28.08.22	Канікули

Звичайна програма	Скорочена програма	Етап навчального процесу
01.09.21 — 10.10.21	Теоретичне навчання
11.10.21 — 17.10.21	Рубіжний контроль
18.10.21 — 05.12.21	Теоретичне навчання
06.12.21 — 12.12.21	Рубіжний контроль
13.12.21 — 26.12.21	Сессія
27.12.21 — 16.01.22	Канікули
17.01.22 — 23.01.22	17.01.22 — 30.01.22	Сессія
24.01.22 — 30.01.22	—	Канікули
31.01.22 — 27.03.22	Теоретичне навчання
28.03.22 — 03.04.22	Рубіжний контроль
04.04.22 — 15.05.22	Теоретичне навчання
16.05.22 — 22.05.22	Рубіжний контроль
23.05.22 — 12.06.22	23.05.22 — 19.06.22	Сессія
13.06.22 — 28.08.22	20.06.22 — 28.08.22	Канікули

Звичайна програма	Скорочена програма	Етап навчального процесу
01.09.21 — 10.10.21	Теоретичне навчання
11.10.21 — 17.10.21	Рубіжний контроль
18.10.21 — 05.12.21	Теоретичне навчання
06.12.21 — 12.12.21	Рубіжний контроль
13.12.21 — 26.12.21	Сессія
27.12.21 — 16.01.22	Канікули
17.01.22 — 23.01.22	17.01.22 — 30.01.22	Сессія
24.01.22 — 30.01.22	—	Канікули
31.01.22 — 13.03.22	Теоретичне навчання
14.03.22 — 20.03.22	Рубіжний контроль
21.03.22 — 01.05.22	Теоретичне навчання
02.05.22 — 08.05.22	Рубіжний контроль
09.05.22 — 22.05.22	Сессія
23.05.22 — 12.02.22	Практика
13.06.22 — 19.06.22	13.06.22 — 26.06.22	Сессія
20.06.22 — 28.08.22	27.06.22 — 28.08.22	Канікули

Дати	Етап навчального процесу
01.09.21 — 10.10.21	Теоретичне навчання
11.10.21 — 17.10.21	Рубіжний контроль
18.10.21 — 05.12.21	Теоретичне навчання
06.12.21 — 12.12.21	Рубіжний контроль
13.12.21 — 26.12.21	Сессія
27.12.21 — 16.01.22	Канікули
17.01.22 — 23.01.22	Сессія
24.01.22 — 30.01.22	Канікули
31.01.22 — 13.03.22	Теоретичне навчання
14.03.22 — 20.03.22	Рубіжний контроль
21.03.22 — 27.03.22	Сессія
28.03.22 — 17.04.22	Практика
18.04.22 — 12.06.22	Дипломування

Дати	Етап навчального процесу
01.09.21 — 10.10.21	Теоретичне навчання
11.10.21 — 17.10.21	Рубіжний контроль
18.10.21 — 05.12.21	Теоретичне навчання
06.12.21 — 12.12.21	Рубіжний контроль
13.12.21 — 26.12.21	Сессія
27.12.21 — 16.01.22	Канікули
17.01.22 — 23.01.22	Сессія
24.01.22 — 30.01.22	Канікули
31.01.22 — 20.03.22	Теоретичне навчання
21.03.22 — 27.03.22	Рубіжний контроль
28.03.22 — 15.05.22	Теоретичне навчання
16.05.22 — 22.05.22	Рубіжний контроль
23.05.22 — 12.06.22	Сессія
13.06.22 — 28.08.22	Канікули

Дати	Етап навчального процесу
01.09.21 — 03.10.21	Практика
04.10.21 — 16.01.22	Дипломування

Графік Чисельник/Знаменник

Дати	Чисельник/Знаменник
01.09.21 — 05.09.21	Чисельник
06.09.21 — 12.09.21	Знаменник
13.09.21 — 19.09.21	Чисельник
20.09.21 — 26.09.21	Знаменник
27.09.21 — 03.10.21	Чисельник
04.10.21 — 10.10.21	Знаменник
11.10.21 — 17.10.21	Чисельник
18.10.21 — 24.09.21	Знаменник
25.10.21 — 31.10.21	Чисельник
01.11.21 — 07.11.21	Знаменник
08.11.21 — 14.11.21	Чисельник
15.11.21 — 21.11.21	Знаменник
22.11.21 — 28.11.21	Чисельник
29.11.21 — 05.11.21	Знаменник
06.12.21 — 12.12.21	Чисельник
13.12.21 — 19.12.21	Знаменник
20.12.21 — 16.12.21	Чисельник
27.12.21 — 02.12.21	Знаменник
03.01.21 — 09.01.22	Чисельник
10.01.22 — 16.01.22	Знаменник
17.01.21 — 23.01.22	Чисельник
24.01.22 — 30.01.22	Знаменник

Дати	Чисельник/Знаменник
31.01.21 — 06.02.22	Чисельник
07.02.22 — 13.02.22	Знаменник
14.02.21 — 20.02.22	Чисельник
21.02.22 — 27.02.22	Знаменник
28.02.21 — 06.03.22	Чисельник
07.03.22 — 13.03.22	Знаменник
14.03.21 — 20.03.22	Чисельник
21.03.22 — 27.03.22	Знаменник
28.03.21 — 03.04.22	Чисельник
04.04.22 — 10.04.22	Знаменник
11.04.21 — 17.04.22	Чисельник
18.04.22 — 24.04.22	Знаменник
25.04.21 — 01.05.22	Чисельник
02.05.22 — 08.05.22	Знаменник
09.05.21 — 15.05.22	Чисельник
16.05.22 — 22.05.22	Знаменник
23.05.21 — 29.05.22	Чисельник
30.05.22 — 05.06.22	Знаменник
06.06.21 — 12.06.22	Чисельник
13.06.22 — 19.06.22	Знаменник
20.06.21 — 26.06.22	Чисельник

Розклад занять по групах

День	Пара	Чисельник				Знаменник
День	Пара	Назва дисц.	Викладач	Вид заняття	Ауд.	Назва дисц.	Викладач	Вид заняття	Ауд.
Пн	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Вт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Ср	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	Метрологія	Томашевський О. В.	ЛК*	44	Метрологія	Томашевський О. В.	ЛК*	44
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Чт	I	Метрологія	Томашевський О. В.	ЛР*	117	Метрологія	Томашевський О. В.	ЛР*	117
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Пт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Сб	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—

День	Пара	Чисельник				Знаменник
День	Пара	Назва дисц.	Викладач	Вид заняття	Ауд.	Назва дисц.	Викладач	Вид заняття	Ауд.
Пн	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Вт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Ср	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Чт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Пт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	Обчислювальна техніка та програмування	Рева В.І.	ЛК*	47	Обчислювальна техніка та програмування	Рева В.І.	ЛК*	47
	IV	Обчислювальна техніка та програмування	Рева В.І.	ЛР*	47	Обчислювальна техніка та програмування	Рева В.І.	ЛР*	47
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Сб	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—

День	Пара	Чисельник				Знаменник
День	Пара	Назва дисц.	Викладач	Вид заняття	Ауд.	Назва дисц.	Викладач	Вид заняття	Ауд.
Пн	I	Квантова механіка	Коротун А. В.	ЛК*	289	Квантова механіка	Коротун А. В.	ЛК*	289
	II	Квантова механіка	Коротун А. В.	ПЗ*	289	Квантова механіка	Коротун А. В.	ПЗ*	289
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Вт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Ср	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Чт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	Матеріали мікро та наноелектроніки	Сніжной Г. В.	ЛР*	0	Матеріали мікро та наноелектроніки	Сніжной Г. В.	ЛК*	0
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Пт	I	Математичні пакети прикладних програм	Рева В.І.	ЛР*	322	Математичні пакети прикладних програм	Рева В.І.	ЛР*	322
	II	—	—	—	—	Математичні пакети прикладних програм	Рева В.І.	ЛК*	322
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Сб	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—

День	Пара	Чисельник				Знаменник
День	Пара	Назва дисц.	Викладач	Вид заняття	Ауд.	Назва дисц.	Викладач	Вид заняття	Ауд.
Пн	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	Механічні елементи інформаційно-вимірювальних систем	Смирнова Н. А.	ПЗ*	44	—	—	—	—
	V	Механічні елементи інформаційно-вимірювальних систем	Коротун А. В.	ЛК*	289	Механічні елементи інформаційно-вимірювальних систем	Коротун А. В.	ЛК*	289
Вт	I	Статистичні методи в метрології та інформаційно-вимірювальній техніці	Смирнова Н. А.	ЛК*	332	Статистичні методи в метрології та інформаційно-вимірювальній техніці	Смирнова Н. А.	ЛК*	332
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Ср	I	О М та ІВТ	Томашевський О.В.	ЛР*	330	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Чт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	Матеріали мікро та наноелектроніки	Сніжной Г. В.	ЛР*	0	Матеріали мікро та наноелектроніки	Сніжной Г. В.	ЛК*	0
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Пт	I	Математичні пакети прикладних програм	Рева В.І.	ЛР*	322	Математичні пакети прикладних програм	Рева В.І.	ЛР*	322
	II	—	—	—	—	Математичні пакети прикладних програм	Рева В.І.	ЛК*	322
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Сб	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—

День	Пара	Чисельник				Знаменник
День	Пара	Назва дисц.	Викладач	Вид заняття	Ауд.	Назва дисц.	Викладач	Вид заняття	Ауд.
Пн	I	Фізика напівпровідників	Смирнова Н. А.	ЛР*	332	—	—	—	—
	II	Фізика напівпровідників	Смирнова Н. А.	ЛК*	332	Фізика напівпровідників	Смирнова Н. А.	ЛК*	332
	III	Квантова електроніка	Рева В. І.	ЛК*	322	Квантова електроніка	Рева В. І.	ЛК*	322
	IV	Квантова електроніка	Рева В. І.	ПЗ*	320	Квантова електроніка	Рева В. І.	ЛР*	320
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Вт	I	Елементи та компоненти електронних систем	Коротун А. В.	ЛК*	289	Елементи та компоненти електронних систем	Коротун А. В.	ЛК*	289
	II	Елементи та компоненти електронних систем	Смирнова Н. А.	ПЗ*	198	Елементи та компоненти електронних систем	Смирнова Н. А.	ПЗ*	198
	III	Елементи та компоненти електронних систем	Смирнова Н. А.	ЛР*	198	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Ср	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Чт	I	Фізика діелектриків	Сніжной Г. В.	ЛК*	289	Фізика діелектриків	Сніжной Г. В.	ЛК*	289
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Пт	I	Фізика напівпровідників	Смирнова Н. А.	ПЗ*	0	Фізика напівпровідників	Смирнова Н. А.	ПЗ*	0
	II	Фізика напівпровідників	Смирнова Н. А.	ЛР*	0	Фізика напівпровідників	Смирнова Н. А.	ЛР*	0
	III	Фізика діелектриків	Сніжной Г. В.	ПЗ*	0	Фізика діелектриків	Сніжной Г. В.	ПЗ*	0
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Сб	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—

День	Пара	Чисельник				Знаменник
День	Пара	Назва дисц.	Викладач	Вид заняття	Ауд.	Назва дисц.	Викладач	Вид заняття	Ауд.
Пн	I	Комп'ютерне Моделювання	Василенко О. В.	ЛК*	0	Комп'ютерне Моделювання	Василенко О. В.	ЛК*	0
	II	Системи автоматичного керування	Василенко О. В.	ЛК*	0	КМ	Василенко О. В.	ПЗ*	0
	III	Системи автоматичного керування	Василенко О. В.	ЛР*	0	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	С М в М та ІВТ	Смирнова Н. А.	ПЗ*	44
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Вт	I	Елементи та компоненти електронних систем	Коротун А. В.	ЛК*	289	Елементи та компоненти електронних систем	Коротун А. В.	ЛК*	289
	II	Елементи та компоненти електронних систем	Смирнова Н. А.	ПЗ*	198	Елементи та компоненти електронних систем	Смирнова Н. А.	ПЗ*	198
	III	ЕтаКЕС	Смирнова Н. А.	ЛР*	198	—	—	—	—
	IV	Основи метрології та інформаційно-вимірювальної техніки	Томашевський О.В.	ЛК*	34	Основи метрології та інформаційно-вимірювальної техніки	Томашевський О.В.	ЛК*	34
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Ср	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Чт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	ПрІВТ	Смирнова Н. А.	ЛК*	0	ПрІВТ	Смирнова Н. А.	ЛК*	0
	III	ОСіКЯП	Степаненко С. М.	ЛР*	146	ОСіКЯП	Степаненко С. М.	ЛР*	146
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Пт	I	Методи та засоби вимірювань	Сніжной Г. В.	ЛК*	40	Методи та засоби вимірювань	Сніжной Г. В.	ЛК*	40
	II	Методи та засоби вимірювань	Василенко О. В.	ПЗ*	146	Методи та засоби вимірювань	Василенко О. В.	ПЗ*	146
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Сб	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—

День	Пара	Чисельник				Знаменник
День	Пара	Назва дисц.	Викладач	Вид заняття	Ауд.	Назва дисц.	Викладач	Вид заняття	Ауд.
Пн	I	Технології виробництва напівпровідникових матеріалів	Сніжной Г. В.	ЛР*	198	—	—	—	—
	II	Технології виробництва напівпровідникових матеріалів	Сніжной Г. В.	ЛК*	198	Технології виробництва напівпровідникових матеріалів	Сніжной Г. В.	ПЗ*	198
	III	Елементи та прилади наноелектроніки	Коротун А. В.	ЛК*	289	Елементи та прилади наноелектроніки	Коротун А. В.	ЛК*	289
	IV	Елементи та прилади наноелектроніки	Коротун А. В.	ЛК*	289	Елементи та прилади наноелектроніки	Коротун А. В.	ПЗ*	289
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Вт	I	Вакуумна і плазмова електроніка	Нагорна Н. М.	ЛК*	3	Вакуумна і плазмова електроніка	Нагорна Н. М.	ПЗ*	3
	II	Цифрова схемотехніка	Нагорна Н. М.	ПЗ*	3	Вакуумна і плазмова електроніка	Нагорна Н. М.	ЛР*	3
	III	Цифрова схемотехніка	Нагорна Н. М.	ЛР*	3	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Ср	I	Мікропроцесорна техніка	Рева В. І.	ЛК*	164б	Мікропроцесорна техніка	Рева В. І.	ЛК*	164б
	II	Мікропроцесорна техніка	Рева В. І.	ЛР*	48	Мікропроцесорна техніка	Рева В. І.	ЛР*	48
	III	Фізика нанокластерів і тонких плівок	Погосов В. В.	ЛК*	166	Фізика нанокластерів і тонких плівок	Погосов В. В.	ЛК*	166
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Чт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Пт	I	Технологія тонких плівок	Матюшин В. М.	ЛК*	289	Технологія тонких плівок	Матюшин В. М.	ЛР*	289
	II	Цифрова схемотехніка	Нагорна Н. М.	ЛК*	28	Цифрова схемотехніка	Нагорна Н. М.	ЛК*	28
	III	Фізика нанокластерів і тонких плівок	Смирнова Н. А.	ПЗ*	28	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Сб	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—

День	Пара	Чисельник				Знаменник
День	Пара	Назва дисц.	Викладач	Вид заняття	Ауд.	Назва дисц.	Викладач	Вид заняття	Ауд.
Пн	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	Елементи та прилади наноелектроніки	Коротун А. В.	ЛК*	289	Елементи та прилади наноелектроніки	Коротун А. В.	ЛК*	289
	IV	Елементи та прилади наноелектроніки	Коротун А. В.	ЛК*	289	Елементи та прилади наноелектроніки	Коротун А. В.	ПЗ*	289
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Вт	I	—	—	—	—	О М К М	Сніжной Г. В.	ЛК*	28
	II	Цифрова схемотехніка	Нагорна Н. М.	ПЗ*	3	О М К М	Сніжной Г. В.	ЛР*	28
	III	Цифрова схемотехніка	Нагорна Н. М.	ЛР*	3	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Ср	I	Мікропроцесорна техніка	Рева В. І.	ЛК*	164б	Мікропроцесорна техніка	Рева В. І.	ЛК*	164б
	II	Мікропроцесорна техніка	Рева В. І.	ЛР*	48	Мікропроцесорна техніка	Рева В. І.	ЛР*	48
	III	Технології програмування	Рева В. І.	ЛР*	47	Технології програмування	Рева В. І.	ЛР*	47
	IV	Технології програмування	Рева В. І.	ЛР*	47	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Чт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Пт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	Цифрова схемотехніка	Нагорна Н. М.	ЛК*	28	Цифрова схемотехніка	Нагорна Н. М.	ЛК*	28
	III	О В З В Т	Нагорна Н. М.	ЛК*	46	О В З В Т	Нагорна Н. М.	ПЗ*	46
	IV	О В З В Т	Нагорна Н. М.	ЛР*	46	Кв та С У Я	Степаненко С. М.	ЛК*	46
	V	Кв та С У Я	Степаненко С. М.	ПЗ*	46	Кв та С У Я	Степаненко С. М.	ЛР*	46
Сб	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—

День	Пара	Чисельник				Знаменник
День	Пара	Назва дисц.	Викладач	Вид заняття	Ауд.	Назва дисц.	Викладач	Вид заняття	Ауд.
Пн	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Вт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	Нанофотоніка	Коротун А. В.	ЛК*	289	Нанофотоніка	Коротун А. В.	ЛК*	289
	III	Мет. Д та А М і НС	Коротун А. В.	ЛК*	289	Мет. Д та А М і НС	Коротун А. В.	ЛК*	289
	IV	Основи Ф П та У С	Коротун А. В.	ПЗ*	289	Основи Ф П та У С	Коротун А. В.	ПЗ*	289
	V	Нанофотоніка	Коротун А. В.	ЛР*	289	—	—	—	—
Ср	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	Основи Ф П та У С	Погосов В. В.	ЛК*	55	Основи Ф П та У С	Погосов В. В.	ЛК*	55
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Чт	I	МДАМНС	Смирнова Н. А.	ПЗ*	40	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	Нанофотоніка	Смирнова Н. А.	ПЗ*	146	Нанофотоніка	Смирнова Н. А.	ПЗ*	146
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Пт	I	ПлАПтаВ	Василенко О. В.	ЛК*	146	ПлАПтаВ	Василенко О. В.	ЛР*	146
	II	Функціон. електроніка	Матюшин В. М.	ЛК*	289	Функціон. електроніка	Матюшин В. М.	ЛК*	289
	III	ФЕ	Матюшин В. М.	ЛР*	289	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Сб	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—

День	Пара	Чисельник				Знаменник
День	Пара	Назва дисц.	Викладач	Вид заняття	Ауд.	Назва дисц.	Викладач	Вид заняття	Ауд.
Пн	I	Метрол. забезп. як. пр.	Рева В.І.	ЛК*	10	Метрол. забезп. як. пр.	Рева В.І.	ЛК*	10
	II	Метрол. забезп. як. пр.	Рева В.І.	ЛР*	2	Метрол. забезп. як. пр.	Рева В.І.	ЛР*	2
	III	Мен. як. та сертиф.	Сніжной Г. В.	ЛК*	198	Мен. як. та сертиф.	Сніжной Г. В.	ЛК*	198
	IV	МЯС	Сніжной Г. В.	ПЗ*	336	ЕАУЯ	Сніжной Г. В.	ПЗ*	336
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Вт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	Техн. конц. "Індустрія 4.0"	Василенко О. В.	ЛК*	0	Техн. конц. "Індустрія 4.0"	Василенко О. В.	ЛК*	0
	III	Техн. конц. "Індустрія 4.0"	Василенко О. В.	ЛР*	0	Техн. конц. "Індустрія 4.0"	Василенко О. В.	ЛР*	0
	IV	—	—	—	—	ЕАУЯ	Сніжной Г. В.	ЛК*	0
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Ср	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	СМ УЯП	Томашевський О.В.	ЛК*	0	СМ УЯП	Томашевський О.В.	ЛК*	0
	V	СМ УЯП	Томашевський О.В.	ЛР*	0	СМ УЯП	Томашевський О.В.	ЛР*	0
Чт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	Нормативне забезпечення якості	Степаненко С. М.	ЛК*	0	Нормативне забезпечення якості	Степаненко С. М.	ЛК*	0
	V	Нормативне забезпечення якості	Степаненко С. М.	ЛР*	0	Нормативне забезпечення якості	Степаненко С. М.	ЛР*	0
Пт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Сб	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—

Розклад занять по викладачам

День	Пара	Чисельник				Знаменник
День	Пара	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.
Пн	I	Комп'ютерне моделювання	РТ-419, 410сп	ЛК*	0	Комп'ютерне моделювання	РТ-419, 410сп	ЛК*	0
	II	Системи автоматичного керування	РТ-419, 410сп	ЛК*	0	Комп'ютерне моделювання	РТ-419, 410сп	ПЗ*	0
	III	Системи автоматичного керування	РТ-419, 410сп	ЛР*	0	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Вт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	технологічна концепція "Індустрія 4.0"	РТ-411м	ЛК*	0	технологічна концепція "Індустрія 4.0"	РТ-411м	ЛК*	0
	III	технологічна концепція "Індустрія 4.0"	РТ-411м	ЛР*	0	технологічна концепція "Індустрія 4.0"	РТ-411м	ЛР*	0
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Ср	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Чт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Пт	I	ПлАПтаВ	РТ-311м	ЛК*	146	ПлАПтаВ	РТ-311м	ЛР*	146
	II	Методологія та засоби вимірювань	РТ-419, 410сп	ПЗ*	146	Методологія та засоби вимірювань	РТ-419, 410сп	ЛР*	146
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Сб	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—

День	Пара	Чисельник				Знаменник
День	Пара	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.
Пн	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Вт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Ср	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Чт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Пт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Сб	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—

День	Пара	Чисельник				Знаменник
День	Пара	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.
Пн	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Вт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Ср	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Чт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Пт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Сб	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—

День	Пара	Чисельник				Знаменник
День	Пара	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.
Пн	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Вт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Ср	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Чт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Пт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Сб	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—

День	Пара	Чисельник				Знаменник
День	Пара	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.
Пн	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Вт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Ср	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Чт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Пт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Сб	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—

День	Пара	Чисельник				Знаменник
День	Пара	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.
Пн	I	Квантова механіка	РТ-310	ЛК*	289	Квантова механіка	РТ-310	ЛК*	289
	II	Квантова механіка	РТ-310	ПЗ*	289	Квантова механіка	РТ-310	ПЗ*	289
	III	Елементи та прилади наноелектроніки	РТ-318-419сп	ЛК*	289	Елементи та прилади наноелектроніки	РТ-318-419сп	ЛК*	289
	IV	Елементи та прилади наноелектроніки	РТ-318-419сп	ЛК*	289	Елементи та прилади наноелектроніки	РТ-318-419сп	ПЗ*	289
	V	Механічні елементи інформаційно-вимірювальних систем	РТ-410	ЛК*	289	Механічні елементи інформаційно-вимірювальних систем	РТ-410	ЛК*	289
Вт	I	Елементи та компоненти електронних систем	РТ-319-410сп	ЛК*	289	Елементи та компоненти електронних систем	РТ-319-410сп	ЛК*	289
	II	Нанофотоніка	РТ-311м	ЛК*	289	Нанофотоніка	РТ-311м	ЛК*	289
	III	Мет. Д та А М і НС	РТ-311м	ЛК*	289	Мет. Д та А М і НС	РТ-311м	ЛК*	289
	IV	Основи Ф П та У С	РТ-311м	ПЗ*	289	Основи Ф П та У С	РТ-311м	ПЗ*	289
	V	Нанофотоніка	РТ-311м	ЛК*	289	—	—	—	—
Ср	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Чт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Пт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Сб	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—

День	Пара	Чисельник				Знаменник
День	Пара	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.
Пн	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Вт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Ср	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Чт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Пт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Сб	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—

День	Пара	Чисельник				Знаменник
День	Пара	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.
Пн	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Вт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Ср	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Чт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Пт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Сб	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—

День	Пара	Чисельник				Знаменник
День	Пара	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.
Пн	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Вт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Ср	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Чт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Пт	I	Технології тонких плівок	РТ-318, 319сп	ЛК*	289	Технології тонких плівок	РТ-318, 319сп	ЛК*	289
	II	Функціональна електроніка	РТ-311м	ЛК*	289	Функціональна електроніка	РТ-311м	ЛК*	289
	III	Функціональна електроніка	РТ-311м	ЛР*	289	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Сб	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—

День	Пара	Чисельник				Знаменник
День	Пара	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.
Пн	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Вт	I	Вакуумна і плазмова електроніка	РТ-318,319сп	ЛК*	3	Вакуумна і плазмова електроніка	РТ-318,319сп	ПЗ*	3
	II	Цифрова схемотехніка	РТ-318-419сп	ПЗ*	3	Вакуумна і плазмова електроніка	РТ-318,319сп	ЛР*	3
	III	Цифрова схемотехніка	РТ-318-419сп	ЛР*	3	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Ср	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Чт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Пт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	Цифрова схемотехніка	РТ-318-419сп	ЛК*	28	Цифрова схемотехніка	РТ-318-419сп	ЛК*	28
	III	Оцінювання відповідності засобів вимірювальної техніки	РТ-418,419сп	ЛК*	46	Оцінювання відповідності засобів вимірювальної техніки	РТ-418,419сп	ПЗ*	46
	IV	О В З В Т	РТ-418,419сп	ЛР*	46	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Сб	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—

День	Пара	Чисельник				Знаменник
День	Пара	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.
Пн	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Вт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Ср	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Чт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Пт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Сб	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—

День	Пара	Чисельник				Знаменник
День	Пара	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.
Пн	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Вт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Ср	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Чт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Пт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Сб	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—

День	Пара	Чисельник				Знаменник
День	Пара	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.
Пн	I	Метрологічне забезпечення якості продукції	РТ-411м	ЛК*	10	Метрологічне забезпечення якості продукції	РТ-411м	ЛК*	10
	II	Метрологічне забезпечення якості продукції	РТ-411м	ЛР*	2	Метрологічне забезпечення якості продукції	РТ-411м	ЛР*	2
	III	Квантова електроніка	РТ-319	ЛК*	322	Квантова електроніка	РТ-319	ЛК*	322
	IV	Квантова електроніка	РТ-319	ПЗ*	330	Квантова електроніка	РТ-319	ЛР*	330
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Вт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Ср	I	Мікропроцесорна техніка	РТ-317-418сп	ЛК*	164б	Мікропроцесорна техніка	РТ-317-418сп	ЛК*	164б
	II	Мікропроцесорна техніка	РТ-317-418сп	ЛР*	48	Мікропроцесорна техніка	РТ-317-418сп	ЛР*	48
	III	Технології програмування	РТ-417-418сп	ЛР*	47	Технології програмування	РТ-417-418сп	ЛР*	47
	IV	Технології програмування	РТ-417-418сп	ЛК*	47	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Чт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Пт	I	Математичні пакети прикладних програм	РТ-318-419сп	ЛР*	322	Математичні пакети прикладних програм	РТ-318-419сп	ЛР*	322
	II	—	—	—	—	Математичні пакети прикладних програм	РТ-318-419сп	ЛК*	322
	III	Обчислювальна техніка та програмування	РТ-411	ЛК*	47	Обчислювальна техніка та програмування	РТ-411	ЛК*	47
	IV	Обчислювальна техніка та програмування	РТ-411	ЛР*	47	Обчислювальна техніка та програмування	РТ-411	ЛР*	47
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Сб	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—

День	Пара	Чисельник				Знаменник
День	Пара	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.
Пн	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Вт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Ср	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Чт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Пт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Сб	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—

День	Пара	Чисельник				Знаменник
День	Пара	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.
Пн	I	Фізика напівпровідників	РТ-319	ЛК*	332	—	—	—	—
	II	Фізика напівпровідників	РТ-319	ЛК*	332	Фізика напівпровідників	РТ-319	ЛК*	332
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	Механічні елементи ІВС	РТ-410	ПЗ*	44	С М в М та ІВТ	РТ-419	ПЗ*	44
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Вт	I	Статистичні методи в метрології та ІВТ	РТ-410	ЛК*	322	Статистичні методи в метрології та ІВТ	РТ-410	ЛК*	322
	II	Елементи та компоненти електронних систем	РТ-319-410сп	ПЗ*	189	Елементи та компоненти електронних систем	РТ-319-410сп	ПЗ*	189
	III	Елементи та компоненти електронних систем	РТ-319-410сп	ЛР*	198	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Ср	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Чт	I	МДАМНС	РТ-311м	ПЗ*	40	—	—	—	—
	II	ПрІВТ	РТ-419, 410сп	ЛК*	0	ПрІВТ	РТ-419, 410сп	ЛР*	0
	III	Нанофотоніка	РТ-311м	ПЗ*	146	Нанофотоніка	РТ-311м	ПЗ*	146
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Пт	I	Фізика напівпровідників	РТ-319	ПЗ*	0	Фізика напівпровідників	РТ-319	ПЗ*	0
	II	Фізика напівпровідників	РТ-319	ЛР*	0	Фізика напівпровідників	РТ-319	ЛР*	0
	III	Ф Нк і Т П	РТ-318, 319сп	ПЗ*	28	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Сб	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—

День	Пара	Чисельник				Знаменник
День	Пара	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.
Пн	I	Технології виробництва напівпровідникових матеріалів	РТ-318, 319сп	ЛР*	198	—	—	—	—
	II	Технології виробництва напівпровідникових матеріалів	РТ-318, 319сп	ЛК*	198	Технології виробництва напівпровідникових матеріалів	РТ-318, 319сп	ПЗ*	198
	III	Менеджмент якості та сертифікації	РТ-411м	ЛК*	198	Менеджмент якості та сертифікації	РТ-411м	ЛК*	198
	IV	Менеджмент якості та сертифікації	РТ-411м	ПЗ*	336	ЕАУЯ	РТ-411м	ПЗ*	336
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Вт	I	—	—	—	—	О М К М	РТ-418, 419сп	ЛК*	28
	II	—	—	—	—	О М К М	РТ-418, 419сп	ЛР*	2
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	ЕАУЯ	РТ-411м	ПЗ*	0
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Ср	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Чт	I	Фізика діелектриків	РТ-319	ЛК*	289	Фізика діелектриків	РТ-319	ЛК*	289
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	Матеріали мікро та наноелектроніки	РТ-310-410	ЛК*	0	Матеріали мікро та наноелектроніки	РТ-310-410	ЛР*	0
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Пт	I	Методи та засоби вимірювань	РТ-419, 410сп	ЛК*	40	Методи та засоби вимірювань	РТ-419, 410сп	ЛК*	40
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	Фізика діелектриків	РТ-319	ПЗ*	0	Фізика діелектриків	РТ-319	ЛР*	0
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Сб	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—

День	Пара	Чисельник				Знаменник
День	Пара	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.	Назва дисц.	Група	Вид заняття	Ауд.
Пн	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Вт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Ср	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—
Чт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	ОСіКЯП	РТ-419, 410сп	ЛК*	33	ОСіКЯП	РТ-419, 410сп	ЛР*	146
	IV	Нормативне забезпечення якості	РТ-411м	ЛК*	0	Нормативне забезпечення якості	РТ-411м	ЛК*	0
	V	Нормативне забезпечення якості	РТ-411м	ЛР*	0	Нормативне забезпечення якості	РТ-411м	ЛР*	0
Пт	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	Кв та системи управління якості	РТ-418, 419сп	ЛК*	46
	V	Кв та системи управління якості	РТ-418, 419сп	ПЗ*	46	Кв та системи управління якості	РТ-418, 419сп	ЛР*	46
Сб	I	—	—	—	—	—	—	—	—
	II	—	—	—	—	—	—	—	—
	III	—	—	—	—	—	—	—	—
	IV	—	—	—	—	—	—	—	—
	V	—	—	—	—	—	—	—	—

Види занять

ЛК - Лекція

ПЗ - практичне заняття

ЛР - Лабораторна робота

Розклад занять факультету радіоелектроніки та телекомунікацій

Розклад занять та консультацій факультету радіоелектроніки та телекомунікацій

Кафедра інформаційної безпеки та наноелектроніки

Розклад занять та консультацій

Історія кафедри «Інформаційна безпека та наноелектроніка»

В 2023 році кафедра була утворена в результаті об'єднання кафедри мікро- та наноелектроніки з кафедрою захисту інформації. З 01.07.2023 функціонує у складі факультету інформаційної безпеки та електронних комунікацій (до 2023 – «Факультет радіоелектроніки та телекомунікацій») під керівництвом Коротуна А.В., кандидата фіз.-мат. наук, доцента.

Підготовка інженерів за спеціальністю “Мікроелектроніка і напівпровідникові прилади” почалась у 1966 році, коли новостворена кафедра мікроелектроніки і напівпровідникових приладів увійшла до складу факультету електронної техніки. Кафедрою завідували д.ф.-м.н., проф. Горбань О.М. (1969-1987 рр.), д.ф.-м.н., проф. Шаповалов В.П. (1987-1998 рр.), к.ф.-м.н., доц. Манько В. К. (1998-1999), д.ф.-м.н., проф. Погосов В.В. (з 1999 р. по 15.02.2021), д.т.н., професор. Сніжной Г.В. (з 16.02.2021 по 01.07.2023). З 2008 року кафедра має назву кафедра мікро- та наноелектроніки.

Електроніка сьогодні одна з основних галузей світової економіки. Більш того, рівень розвитку електроніки визначає і вигляд сучасної цивілізації. Річ у тім, що електроніка є підґрунтям інформаційних технологій, а також інформатики, телемеханіки, обчислювальної техніки тощо. Охоплюючи широке коло науково-технічних і виробничих проблем, електроніка спирається на досягнення в різних галузях знань. При цьому, з одного боку, електроніка ставить завдання перед іншими науками і виробництвом, стимулюючи їх подальший розвиток, і, з другого боку, озброює їх якісно новими технічними засобами та методами дослідження.

Еволюційний розвиток електроніки постійно супроводжується зменшенням розмірів електронних приладів. Сьогодні мікроелектроніка фактично витіснила всі попередні електронні технології. Але прогрес не зупиняється. Вступивши на початку XXI століття в зону «нано», тобто м, електроніка переступила поріг свого еволюційного розвитку. Це неодмінно веде до революційних змін у технологіях, причому не лише у галузі електроніки. Наноелектроніка – новий напрям у науці, техніці та виробництві, що дуже швидко розвивається в усьому світі. Наноелектроніка вивчає і використовує фізичні явища і процеси в електронних приладах, геометричні розміри робочих зон яких співмірні з розмірами молекул і атомів. Мінімальні розміри приладів стають величиною з молекулу, а швидкість обробки інформації підвищується у мільйони разів. Наноелектроніка – це не тільки наше майбутнє, але надзвичайно важливий і перспективний напрям сучасної електроніки. Сьогодні неможливо уявити низку галузей людської діяльності без використання технологій, приладів і пристроїв наноелектроніки. Це і потужні напівпровідникові лазери, і оптоелектронні та фотонні транзистори, і високоефективні фотоприймальні пристрої, і новітні зразки швидкодіючих процесорів, і принципово нове медичне обладнання та інструменти.

У майбутньому наноелектроніка буде інтегруватися з біооб’єктами і забезпечувати безперервний контроль за підтримкою їхньої життєдіяльності, поліпшенням якості життя. Широке поширення одержать убудовані бездротові наноелектронні пристрої, що забезпечують постійний контакт людини з інтелектуальним середовищем, поширяться засоби прямого бездротового контакту мозку людини з навколишніми предметами, транспортними засобами та іншими людьми. Серії такої продукції перевищать мільярди штук у рік через її повсюдне поширення. У період 2016-2025 р. очікується черговий стрибок посилення ролі електроніки в житті суспільства і вітчизняна промисловість має бути готовою до цього виклику – жорсткої глобальної конкуренції на базі наноелектронних технологій.

Фахівців з наноелектроніки практично немає, а потреба у них неухильно зростає. Уряд України прийняв програму розвитку наноелектронної галузі і виділив на це немалі кошти.

Значна кількість підприємств повсякденно втілюють у виробництво високі новітні технології на базі електронних мікропроцесорів і мікроелектронних приладів. Аналіз таких складних об’єктів як сучасні вироби мікроелектроніки неможливий без впровадження нових комп’ютерних технологій. Умовою ефективної взаємодії персоналу та автоматизованих технологій є системи якості. Тому питання стандартизації та сертифікації продукції для цих підприємств вельми актуальні. Все це потребує щорічно вести підготовку певної кількості фахівців. Зважаючи на це, у 2009 році на кафедрі акредитована спеціальність “Якість, стандартизація та сертифікація”, яка дозволяє забезпечити промислові підприємства, недержавні структури та малий бізнес відповідними кадрами. Принципово нові напрямки розвитку вимагають осмисленої оцінки змін у підходах до керування якістю, адаптації й освоєння передових систем якості, роботи з відповідності вітчизняної продукції міжнародним стандартам, вирішення питань і проблем сертифікації і ліцензування. Кафедра здійснює підготовку студентів вказаної спеціальності до ефективного використання сучасних принципів керування як фактора гарантії якості продукції і послуг. Значну роль у розвитку напрямку “Якість, стандартизація та сертифікація” відіграє тісний зв’язок кафедри з ДП Запоріжстандартметрологія, кафедрою метрології, стандартизації та сертифікації Київського національного університету технологій та дизайну.

Кафедра йде шляхом максимального наближення процесу навчання студентів до практичної діяльності, з цією метою студенти проходять практику на підприємствах м. Запоріжжя: ДП Запоріжстандартметрологія, НВК „Іскра”, ДП „Івченко-Прогрес”, ВАТ „Мотор-Січ”, ТОВ „Елемент-Перетворювач” та інші.

На кафедрі здійснюється підготовка бакалаврів і магістрів зі спеціальностей:

153 – «Мікро- та наносистемна техніка», освітня програма «Мікро- та наноелектронні прилади і пристрої»;
152 – «Метрологія та інформаційно-вимірювальна техніка», освітня програма «Якість, стандартизація та сертифікація»;
підготовка докторів філософії зі спеціальності 105 «Прикладна фізика та наноматеріали», освітня програма «Фізика твердого тіла».

Актуальність наукових досліджень на кафедрі зумовлена важливістю науково-технічного застосування наноструктур і ультрадисперсних систем. Це новітні інтегральні схеми, композити, пристрої, які працюють на неідеальній плазмі, технології плазмової обробки матеріалів тощо. Рівень мініатюризації, де істотну роль відіграють просторові квантовомеханічні ефекти, – це група атомів (кластер чи молекула) – перспективна інформаційна наномашина – ключ до створення квантового комп’ютера. Принципова схема подібних пристроїв припускає збереження і перетворення інформації за допомогою кластерів із скорельованою поведінкою навіть на значній відстані. Збільшення швидкодії, рівня інтеграції і розширення функціональних можливостей в електроніці, оптиці, робототехніці, матеріалознавстві, інформатиці й інших областях науки і техніки можливе на базі нанотехнології – науки про керування процесами на рівні атомів і молекул-кластерів різної форми.

На сьогоднішній день на кафедрі існують такі наукові напрями:

Зарядові, оптичні та розмірні ефекти в наноструктурах і кластерах; одноелектронні ефекти в тунельних структурах (проф. Погосов В.В.) ;
Дослідження впливу атомарного водню на властивості металевих плівок та поверхню напівпровідникових матеріалів і МДН-структур (проф. Матюшин В.М.);
Наукові основи впливу магнітного стану структури на властивості аустенітних сталей (проф. Сніжной Г.В.).

З 1997 р. за цими напрямами захищені 3 докторські дисертацій:

та 10 кандидатських дисертацій:

Співробітниками кафедри опубліковано понад 400 наукових праць, отримано більше 20 авторських свідоцтв. Надруковано, а також виходять з друку наступні монографії, підручники та навчальні посібники:

В.В. Погосов “Введение в физику зарядовых и размерных эффектов. Поверхность, кластеры, низкоразмерные системы”. – М.: Физматлит, 2006. – 328 с. (монографія);
А.П. Шпак, В.В. Погосов, Ю.А. Куницкий “Введение в физику ультрадисперсных систем”. – К.: Академперіодика, 2006. – 423 с. (монографія);
Томашевський О.В., Рисіков В.П. Комп’ютерні технології статистичної обробки даних. – Запоріжжя: ЗНТУ, 2006. – 175с. (навчальний посібник);
В.В. Погосов, Г.В. Корніч, Є.В. Васютін, К.В. Пугіна, В.І. Кіпріч “Основи нанофізики і нанотехнологій”. – Київ: Міносвіти, 2008. – 630 c. (електронний підручник);
В.В. Погосов, Ю.А. Куницький, А.В. Бабіч, А.В. Коротун “Елементи фізики поверхні, нано- структур і технологій”. – Запоріжжя: ЗНТУ, 2010. – 385 с. (монографія);
В.М. Матюшин, Є.Л. Жавжаров “Радикало-рекомбінаційна обробка мікроструктур”. – Запоріжжя: ЗНТУ, 2010. – 207 с. (монографія);
Томашевський О.В., Сніжной Г.В., Степаненко С.М. Методичний посібник до дипломного проектування. – Запоріжжя: ЗНТУ, 2009. – 92с.
Сніжной Г.В., Степаненко С.М. „Менеджмент і нормативне забезпечення якості у електронній галузі” / Навчальний посібник (з грифом МОНУ). – Запоріжжя: ЗНТУ, 2010. - 126 с.
Погосов В.В., Куницький Ю.А., Бабіч А.В., Коротун А.В., Шпак А.П. Нанофізика і нанотехнології / Навчальний посібник (з грифом МОНУ). Запоріжжя: ЗНТУ, 2011. – 368 с.
Коротун А.В., Тітов І.М., Куницький Ю.А., Погосов В.В. Збірник задач з фізики конденсованого стану / Навчальний посібник (з грифом МОНУ). Запоріжжя: ЗНТУ, 2011. – Т 1 (Структурні властивості) – 358 с.
Коротун А.В., Тітов І.М., Куницький Ю.А., Погосов В.В. Збірник задач з фізики конденсованого стану / Навчальний посібник (з грифом МОНУ). Запоріжжя: ЗНТУ, 2011. – Т 2 (Електронні властивості) – 470 с.
Овруцький А.М., Прохода О.С., Расщупкіна М.С. Комп’ютерне моделювання фазових перетворень та поверхневих явищ / Навчальний посібник (з грифом МОНУ). Дніпропетровськ: Інновація, 2011. – 280 c.
Каширин В.А Томашевский А.В. Основы компьютерных технологий анализа медицинской информации / Учебное пособие. Запорожье: ЗМАПО, ЗНТУ. Изд-во «Финарт», 2014. – 196 с.
Томашевський О.В., Рисіков В.П. Комп’ютерні технології статистичної обробки даних: / Навчальний посібник (з грифом МОНУ). - Запоріжжя: ЗНТУ, 2015. - 175 с.
Метрологічне забезпечення контролю якості продукції / Ігнаткін В. У., Туз Ю. М., Левківський К. М., Томашевський О. В.; за ред. Ігнаткіна В.У. – Запоріжжя: ЗНТУ, 2017. – 202 с. (монографія);
Ігнаткін В.У., Томашевський О.В., Матюшин В.М. Основи метрології / Навчальний посібник. - Запоріжжя:ЗНТУ, 2017 - 119 с.

Науковці кафедри підтримують тісні зв’язки у галузі нанотехнологій із вітчизняними та зарубіжними установами: КНУ ім. Т. Шевченка; Інститут фізики НАНУ, Інститут хімії поверхні ім. О. Чуйка НАНУ, Інститут металофізики ім. Г. Курдюмова НАНУ, Інститут Нанотехнологій Міжнародного фонду конверсії, Національний науковий центр “ХФТІ”, Інститут фізики С-Пб. університету, ФТІ Російської РАН (С-Петербург), МДУ ім. М. Ломоносова, Інститут теплофізики екстремальних станів ОІВТ РАН (Москва), Kamerlingh Onnes Laboratorium (Leiden), University of Regensburg, University of Coimbra, Tulane University, Wroclaw University.

З 1997 робота групи професора Погосова В.В. підтримувалась грантами і міжнародними і вітчизняними програмами:

Soros Education Program (USA);
Wroclaw University Scientific Program (Poland);
Mianovsky Fund (Poland);
NATO “Science for Peace” Programme (Russia–Ukraine–Unite Kingdom–Germany).
Держбюджетна тема 06113 «Зарядові ефекти в наноструктурах і кластерах» (2004-2006) (науковий керівник проф.Погосов В.В.).
Держбюджетна тема 04026 «Дослідження впливу атомарного водню на тонкі металеві плівки та гетероструктури з металевими плівками» (2006-2008) (науковий керівник Матюшин В.М.).
Держбюджетна тема 04016 «Зарядові і розмірні ефекти в наноструктурах і кластерах» (2006-2008) (науковий керівник Погосов В.В.).
Держбюджетна тема Ф25/669-2007/4037 «Дослідження оптичних коефіцієнтів, електрофізичних властивостей суцільних і острівцевих металевих і діелектричних плівок» (2007) (науковий керівник Погосов В.В.).
Держбюджетна тема ІТ/476-2007/4027: Створення електронного підручника «Основи нанофізики і нанотехнологій» (2007-2008) (науковий керівник Погосов В.В.).
Держбюджетна тема 04319 «Оптичні, поверхневі і тунельні ефекти в металевих наноструктурах» (2009-2011) (науковий керівник Погосов В.В.).
Держбюджетна тема 04322 (2012-2015) „Магнетометричні дослідження аустенітних криць та стопів з метою контролю якості їх фізичних та службових властивостей”, № держреєстрації 0112U005942 (науковий керівник Сніжной Г.В.).
Держбюджетна тема 04313 «Розмірні електронні ефекти в металевих наноструктурах і нанодефектах металу» (2013-2015) (науковий керівник Погосов В.В.).
Держбюджетна тема 04325 (2015-2018) „Магнітно-фазові перетворення в аустенітних сталях і сплавах при температурно-силових впливах та нормативне забезпечення організацій-розробників авіаційної техніки” (науковий керівник Сніжной Г.В.).

На засідання постійно діючого семінару з нанофізики і наноелектроніки запрошуються не тільки викладачі випускаючої кафедри, а всі зацікавлені фахівці університету та інших ВНЗ і наукових установ м. Запоріжжя. На семінарі обговорюються результати досліджень науковців ЗНТУ, розглядаються напрямки майбутніх досліджень, методи використання інформаційних технологій. Результати наукових досліджень доповідалися на національних та міжнародних конференціях.

Молоді науковці кафедри регулярно беруть участь у різних міжнародних і вітчизняних конкурсах. Так, за участь у конкурсі “Samsung Young Scientist Day” (2005 р.) асп. Васютіну Є.В. присуджено ІІ місце. За участь у всеукраїнському конкурсі молодих вчених (2007 р.) асп. Бабічу A.В. присуджено І місце. Магістр Кравцова Г.Г. нагороджена дипломом ІІ ступеня за перемогу у Всеукраїнському конкурсі студентських наукових робіт з фізики (2009 р.)

З 2017 р. на базі кафедри мікро- та наноелектроніки ЗНТУ розпочала заняття Літня школа робототехніки Smart Kids, що була створена громадською організацією «Екосенс» на грант, отриманий у рамках програми соціальних ініціатив «Мы — это город» ПАТ «Запоріжсталь».

Викладання у літній школі проводять співробітники кафедри мікро- та наноелектроніки. Програму літнього курсу розробив доцент кафедри Євген Жавжаров спеціально для ознайомлення школярів 6-16 років із основами інженерного проектування, робототехніки та програмування. Навчання проводиться на базі конструкторів LEGO Education WeDo 2.0 для молодшої групи та Makeblock Ultimate Robot Kit 2.0 та Arduino Uno для середньої та старшої груп школярів.

Погосов В.В.

Кафедру «Захисту інформації» було створено в серпні 2006 року в складі радіоприладобудівного факультету Запорізького національного технічного університету. Очолив кафедру доктор технічних наук, професор Карпуков Л.М. Кафедра входила до складу Факультету радіоелектроніки та телекомунікацій Інституту інформатики та радіоелектроніки ЗНТУ.

На кафедрі навчається близько 250 студентів денної та заочної форм навчання. Навчальний процес забезпечують 21 особа, з яких: 2 професори, 6 доцентів, 5 старших викладачів та 8 асистентів.

Навчальні заняття на кафедрі ведуться як викладачами з великим досвідом роботи в сфері інформаційної безпеки, так і молодими вченими. Більшість викладачів проводять заняття з використанням сучасного мультимедійного обладнання. Усі викладачі кафедри активно займаються науковими дослідженнями, регулярно публікуючи результати своєї наукової роботи та доповідаючи їх на міжнародних та республіканських конференціях і семінарах.

На базі провідних підприємств Запорізького регіону, КП НВК «Іскра» та ДП «Радіоприлад», існують 2 філії кафедри. Згідно договору про співпрацю з Запорізькою філією «Укрчастотнагляду» на його обладнанні проводяться лабораторні роботи з дисципліни «Спеціальні вимірювання».

Кафедра підтримує тісний контакт з провідними підприємствами, що займаються питаннями розробки апаратури захисту інформації, мають спеціалізовані підрозділи та структури з захисту інформації.

Кафедра інформаційної безпеки та наноелектроніки

Історія кафедри

Технічне оснащення кафедри «Інформаційна безпека та наноелектроніка»

В аудиторний фонд входять такі приміщення:

ауд. 36 – лабораторія цифрових методів обробки та захисту інформації (навчальна);
ауд. 38 – лабораторія спеціальної техніки та спеціальних вимірювань (навчальна);
ауд. 101 – лабораторія досліджень магнетних властивостей криць та стопів (науково-дослідницька);
ауд. 108 – лабораторія фізики твердого тіла (по сумісництву мультимедійний клас, навчальна);
ауд. 111 – лабораторія розробки водневих технологій (науково-дослідницька, навчальна);
ауд. 112 – лабораторія фізики напівпровідників, твердотільної електроніки і оптоелектроніки, методів та засобів вимірювань (навчальна);
ауд. 113, 113а, 31а, 32а, 33а, 325 – приміщення для викладачів (викладацькі);
ауд. 325а – приміщення завідуючого кафедри;
ауд. 115 – лабораторія вакуумної і плазмової електроніки, і схемотехніки (навчальна);
ауд. 117 – лабораторія метрологічних вимірювань і технології електроніки (навчальна);
ауд. 214 – лабораторія комп’ютерних технологій і мікропроцесорної техніки (навчальна).

Матеріально-технічна база кафедри відповідає вимогам навчальних планів і програм. Навчальні аудиторії оснащені наочними посібниками, стендами. Навчальні та науково-дослідницькі лабораторії мають необхідне для вирішення навчальних та дослідницьких задач технологічне, контрольно-вимірювальне та спеціальне дослідницьке обладнання.

Для виконання лабораторних робіт та наукових досліджень в рамках спеціальності 125 «Кібербезпека та захист інформації» на кафедрі є таке обладнання: програмно-апаратний комплекс «Digi-Scan» на базі скануючого приймача «AR-8200 Mk3», два сучасні металопошукові пристрої, ефірний вимірювач частоти ACECO, генератор зашумлення приміщень «ANG-2200», унікальний компактний зашумлювач розмов «PSP-2A-Auto», комплект для пошуку підслуховуючих пристроїв СРМ-700 («Акула») і багато іншого; для підготовки студентів спеціальностей 175 «Інформаційно-вимірювальні технології» та 176 «Мікро- та наносистемна техніка» маємо в наявності лабораторні стенди на базі інтелектуального реле Eaton Easy E4 та Raspberry Pi, учбово-відлагоджувальні стенди EV8031/AVR, програмно-апаратні засоби Arduino для побудови та прототипування електронних пристроїв, різноманітне вимірювальне обладнання (осцилограф, вимірювач індуктивностей тощо), 3D-принтер «Duplicator i3 Mini» та багато іншого.

Слід зазначати, що для підготовки бакалаврів також використовуються програмно-апаратні автоматизовані комплекси, що були розроблені та реалізовані студентами. Наприклад, такі розробки, як визначення питомого опору діелектрика методом конденсатора за допомогою автоматизованого вимірювального комплексу «РЕЛАКСАЦІЯ», автоматизований вимірювальний комплекс «TERMO» для дослідження термостимульованих струмів напівпровідникових матеріалів та діелектриків.

Комп’ютерний клас кафедри оснащений 17 сучасними комп'ютерами, з усім необхідним для навчання за спеціальностями 125, 175, 176 програмним забезпеченням (Multisim, MAX+PLUS II, EasySoft, Arduino IDE, Mathcad, Mathlab, MS Office і т.д.).

Матеріально-технічна база кафедри постійно поповнюється новими програмними продуктами та зразками техніки.

Для підготовки фахівців спеціальності 125 «Кібербезпека та захист інформації» використовуються аудиторії:

30 – комп’ютерний клас кафедри РТТ, лабораторія з дисциплін «Програмування крипто перетворень», «Прикладна криптологія», «Основи теорії планування експерименту», «Сучасні методи перетворення і стиснення інформації», «Сучасні методи математичного моделювання та оптимізації в задачах захисту інформації», «Технології хмарних обчислень»;
31 – проводяться дисципліни «Теорія інформації та кодування», «Системи передачі інформації», «Управління персоналом та кадрова безпека», «Менеджмент інформаційної безпеки»;
33 – лабораторія електричних кіл та сигналів, проводяться дисципліни «Цифрова обробка сигналів та зображень», «Інтелектуальні системи та розпізнавання образів»;
34 – лабораторія електродинаміки та техніки НВЧ, проводяться дисципліни «Мікрохвильова та оптоволоконна техніка в телекомунікаційних системах», «Основи теорії кіл, сигналів та процесів в електроніці», «Основи електронної техніки»;
36 – лабораторія цифрових методів обробки та захисту інформації, проводяться дисципліни «Антивірусні технології», «Нормативно-правове забезпечення інформаційної безпеки», «Технологія організації відкритих ключів», «Захищені операційні системи та бази даних»;
37 – лабораторія радіопередавальних та радіоприймальних пристроїв, проводяться дисципліни «Комплексні системи захисту інформації: проектування, впровадження, супровід»;
38 – лабораторія спеціальної техніки та спеціальних вимірювань, проводяться дисципліни «Пристрої обробки та захисту інформації», «Ліцензування, атестація, сертифікація у сфері безпеки об’єктів інформаційної діяльності», «Методи та засоби технічного захисту інформації», «Спеціальні вимірювання в технологіях оборони об’єктів»;
39 – лабораторія мережевих технологій, проводяться дисципліни «Телекомунікаційні та комп’ютерні мережі», «Мережеві технології, системи комутації і протоколи», «Безпека інформаційних і комунікаційних систем»;
46 – предметна аудиторія з дисциплін «Системи економічної безпеки», «Методологія наукових досліджень», «Моделювання процесів захисту інформації в технічних системах»;
127 – комп’ютерний клас факультетського рівня; викладаються дисципліни «Технологія захисту інформації в паралельних та розподілених обчисленнях», «Методи побудови і аналізу криптосистем», «Інформаційні технології», «Основи стеганографії», «Технології програмування».

Підготовка фахівців спеціальностей 175 та 176 здійснюється в аудиторіях:

101 – науково-дослідницька лабораторія досліджень магнетних властивостей криць та стопів, в якій знаходиться аналого-цифровий комплекс на основі ПЕОМ, що використовується для підвищення якості вимірювань характеристик напівпровідникових приладів при виконанні курсових робіт та дипломних проектів за спеціальністю «Якість, стандартизація та сертифікація»;
108 – лабораторія фізики твердого тіла (по сумісництву мультимедійний клас, навчальна), в якій викладаються дисципліни «Фізика твердого тіла», «Фізична хімія», «Наноматеріали та процеси їх формування»;
111 – науково-дослідницька лабораторія розробки водневих технологій, в якій викладаються дисципліни «Технологічні основи електроніки», «Технологія тонких плівок»;
112 – навчальна лабораторія фізики напівпровідників, твердотільної електроніки і оптоелектроніки, методів та засобів вимірювань, в якій викладаються дисципліни «Магнітні вимірювання», «Діелектрична спектроскопія», «Методи та засоби вимірювань, випробувань та контролю»;
115 – навчальна лабораторія вакуумної і плазмової електроніки, і схемотехніки, в якій викладаються дисципліни «Вакуумна та плазмова електроніка», «Схемотехніка аналогових і цифрових пристроїв обробки сигналів», «Елементи та компоненти електронних систем», «Пристрої інформаційно-вимірювальної техніки»;
117 – навчальна лабораторія метрологічних вимірювань і технології електроніки, в якій викладаються дисципліни «Основи теорії кібернетичних систем», «Схемотехніка аналогових і цифрових пристроїв обробки сигналів», «Метрологічна надійність засобів інформаційно-вимірювальної техніки»;
214 – навчальна лабораторія комп’ютерних технологій і мікропроцесорної техніки, в якій викладаються дисципліни «Мікропроцесорна техніка», «Комп’ютерні технології статистичної обробки даних», «Автоматизоване проектування інформаційно-вимірювальних систем».

Кожна лабораторія укомплектована засобами безпеки життєдіяльності і охорони праці, а також протипожежними засобами.

Аудиторії № 30, 31, 33, 34, 36, 37, 38, 39, викладацькі (№31а, 32а, 33а) знаходяться на третьому поверсі навчального корпусу №3 НУ «ЗП» (вул. Жуковського, 64).

Аудиторії № 101, 108, 111, 112, 115, 117, викладацькі (113, 113а) знаходяться на першому поверсі навчального корпусу №2 НУ «ЗП» (вул. Гоголя, 64), а. 214 – на другому поверсі; викладацькі приміщення №325, 325а – на третьому поверсі навчального корпусу №1 НУ «ЗП» (вул. Жуковського, 64).

Кафедра інформаційної безпеки та наноелектроніки

Технічне оснащення

Анотації спеціальностей та освітніх програм кафедри «Інформаційна безпека та наноелектроніка»

КАФЕДРА «ІНФОРМАЦІЙНА БЕЗПЕКА ТА НАНОЕЛЕКТРОНІКА» ЗДІЙСНЮЄ ПІДГОТОВКУ БАКАЛАВРІВ І МАГІСТРІВ У ГАЛУЗЯХ 12 «ІНФОРМАЦІЙНІ ТЕХНОЛОГІЇ», 17 «ЕЛЕКТРОНІКА, АВТОМАТИЗАЦІЯ ТА ЕЛЕКТРОННІ КОМУНІКАЦІЇ»:

СПЕЦІАЛЬНІСТЬ 125 «КІБЕРБЕЗПЕКА ТА ЗАХИСТ ІНФОРМАЦІЇ»

СПЕЦІАЛЬНІСТЬ 175 «ІНФОРМАЦІЙНО-ВИМІРЮВАЛЬНІ ТЕХНОЛОГІЇ»

Область застосування знаннь:

Організація метрологічного забезпечення виробництва;
Проектування інформаційно-вимірювальних і керуючих систем;
Сертифікація і атестація продукції;
Організація і проведення всіх видів контролю технічного обладнання;
Розробка методик проведення технічного контролю;
Розробка систем забезпечення якості;
Комп'ютеризація метрологічної діяльності на підприємстві;
Проведення лабораторно-стендових випробувань складних динамічних об'єктів;
Вхідний контроль комплектуючих елементів та матеріалів;
Вихідний контроль готової продукції

ВИДИ ПРОФЕСІЙНОЇ ДІЯЛЬНОСТІ

РОБОТА ПІСЛЯ ЗАКІНЧЕННЯ УНІВЕРСИТЕТУ

1. Проектно-конструкторська діяльність

Проектування засобів вимірювальної техніки;
Проектування вимірювальних і керуючих систем;
Виготовлення конструкторської документації на засоби вимірювальної техніки;

2. Дослідницька діяльність

Проведення лабораторно-стендових випробувань складних динамічних об'єктів;
Оцінка якості засобів вимірювальної техніки;
Моделювання автоматизованих систем;

3. Організаційна і контрольна діяльність

Комп'ютеризація метрологічної діяльності на підприємстві;
Управління заходами метрологічного забезпечення, стандартизації та керування якістю;
Вхідний контроль комплектуючих елементів та матеріалів;
Вихідний контроль готової продукції

Бакалавр:

Інспектор з контролю якості продукції;
Технік з експлуатації та ремонту устаткування;
Технік з метрології і стандартизації;
Технік з налагоджування та випробувань;
Технік-технолог;
Технік-конструктор (електроніка);
Технік-інспектор;

Магістр:

Інженер з метрології; інженер з якості і стандартизації;
Інженер з організації випробувань, експлуатації та ремонту;
Інженер з охорони навколишнього середовища;
Інженер з патентної та винахідницької роботи;
Інженер-контролер;
Науковий співробітник;
Фахівець із стандартизації та сертифікації;
Інженер-електронщик;
Викладач вищого навчального закладу різних рівнів;
Професіонали в галузі методів навчання

СПЕЦІАЛЬНІСТЬ 176 «МІКРО- ТА НАНОСИСТЕМНА ТЕХНІКА»

Область застосування знаннь:

Проектування мікро-та наноелектронних приладів;
Проектування електронних пристроїв;
Проектування електронних багаторівневих систем;
Проектування електронних автоматизованих систем (SMART-HOUSE, SMART-SITY, ACS);
Дослідження фізичних явищ в нано-розмірних системах;
Моделювання електронних систем на різних рівнях абстракції;
Моделювання явищ у приладах наноелектроніки (спінтроніка, наноплазмоніка, нанофотоніка);
Організація виробництва електронної техніки;
Керівництво виробничими процесами;
Викладацька та наукова діяльність в галузі мікро- та наносистемної техніки.

ВИДИ ПРОФЕСІЙНОЇ ДІЯЛЬНОСТІ

РОБОТА ПІСЛЯ ЗАКІНЧЕННЯ УНІВЕРСИТЕТУ

1. Проектно-конструкторська діяльність

Проектування приладів та пристроїв електронної техніки;
Проектування електронних систем із застосовуванням сучасних спеціалізованих програмних засобів (CAE/CAD/CAS);
Виготовлення конструкторської документації;

2. Дослідницька діяльність

Моделювання процесів в електронних приладах та пристроях;
Моделювання електронних та мультидоменних систем;

3. Організаційно-управлінська діяльність

Організація роботи з проектування та дослідження приладів і пристроїв мікро- та наносистемної техніки;

4. Виробничо-технологічна діяльність

Контроль і управління етапами виробничого процесу (SCADA);
Перевірка параметрів виробництва електронної техніки приладів і пристроїв мікро- та наноелектронної техніки;

Бакалавр:

Лаборанти та техніки, пов’язані з хімічними та фізичними дослідженнями, фахівці з медичної фізики, з управління енергозбереженням, із нетрадиційних видів енергії.
Технічні фахівці в галузі електроніки та телекомунікацій (технік з сигналізації, технік-конструктор, технік-технолог);
Інші технічні фахівці в галузі фізичних наук та техніки;
Оператори електронного устаткування (технік-оператор устаткування, технік-технолог);

Магістр:

Керівники виробничих підрозділів у промисловості:
Професіонали в інших галузях інженерної справи (інженер з налагодження й випробувань, з експлуатації та ремонту)
Інженер з патентної роботи, інженер-дослідник; інженер-конструктор/технолог);
Викладачі вищих навчальних закладів:
Інженер-електронщик;
Науковий співробітник;
Професіонали в галузі методів навчання

Кафедра інформаційної безпеки та наноелектроніки

Навчально-методична діяльність

Метрологія, стандартизація та сертифікація

Мета викладання навчальної дисципліни «Метрологія, стандартизація та сертифікація» – ознайомити студентів з сучасними принципами i способами вимірювань параметрів електронної апаратури, засобами вимірювань i метрологічним забезпеченням розробки, виробництва i експлуатації радіоелектронних приладів, та надати їм можливість отримати практичні навички проводити вимірювання параметрів і характеристик деталей, структур, вузлів, блоків чи закінчених пристроїв радіоелектронної апаратури, проводити обробку статистичної інформації, складати звіти про проведення випробувань, формувати висновки.

Завдання. У результаті вивчення навчальної дисципліни студент повинен знати:

– сучасні принципи i способи вимірювань параметрів радіоелектронних апаратів,

– метод, спосіб та засіб вимірювання для здійснення максимально точного вимірювання параметрів роботи засобів і устаткування

– засоби вимірювань i метрологічне забезпечення розробки, виробництва i експлуатації радіоелектронних приладів;

вміти:

– використовуючи відповідну конструкторську документацію, а також типові програми та методики випробувань, довідкову та методичну літературу,

– вибирати та використовувати загальне та спеціалізоване контрольно-вимірювальне та випробувальне устаткування,

– проводити вимірювання параметрів і характеристик (геометричних, електричних, та ін.) деталей, структур, вузлів, блоків чи закінчених пристроїв радіоелектронної апаратури,

– провадити обробку статистичної інформації, складати звіти про проведення випробувань, формувати висновки.

Вивчення дисципліни «Метрологія, стандартизація та сертифікація» формує знання щодо основ метрології та метрологічного забезпечення виробництва, основ теорії похибок, вимірювальної техніки загального призначення і основ стандартизації. Вивчення дисципліни дозволяє сформувати у студентів знання традиційних засобів i способів вимірювань геометричних параметрів та параметрів електричних кіл i сигналів, правил i форм подання результатів вимірювань, отримати практичні навички використання засобів вимірювань.

Загальні компетентності:

- ЗК-1 Здатність до абстрактного мислення, аналізу та синтезу;

- ЗК-3 Здатність планувати та управляти часом;

- ЗК-4 Знання та розуміння предметної області та розуміння професійної діяльності;

- ЗК-5 Здатність спілкуватися державною мовою як усно, так і письмово;

- ЗК-6 Здатність працювати в команді;

- ЗК-7 Здатність вчитися і оволодівати сучасними знаннями;

- ЗК-9 Навики здійснення безпечної діяльності;

Спеціальні (фахові, предметні) компетентності:

– ПК-3 Здатність використовувати базові методи, способи та засоби отримання, передавання, обробки та зберігання інформації;

– ПК-4 Здатність здійснювати комп'ютерне моделювання пристроїв, систем і процесів з використанням універсальних пакетів прикладних програм;

– ПК-5 Здатність використовувати нормативну та правову документацію, що стосується інформаційно- телекомунікаційних мереж, телекомунікаційних та радіотехнічних систем (закони України, технічні регламенти, міжнародні та національні стандарти, рекомендації Міжнародного союзу електрозв'язку і т.п.) для вирішення професійних завдань;

– ПК-6 Здатність проводити інструментальні вимірювання в інформаційно-телекомунікаційних мережах, телекомунікаційних та радіотехнічних системах;

– ПК-7 Готовність до контролю дотримання та забезпечення екологічної безпеки;

– ПК-9 Здатність здійснювати приймання та освоєння нового обладнання відповідно до чинних нормативів;

– ПК-10 Здатність здійснювати монтаж, налагодження, налаштування, регулювання, дослідну перевірку працездатності, випробування та здачу в експлуатацію споруд, засобів і устаткування телекомунікацій та радіотехніки;

– ПК-13 Здатність організовувати і здійснювати заходи з охорони праці та техніки безпеки в процесі експлуатації, технічного обслуговування і ремонту обладнання інформаційно- телекомунікаційних мереж, телекомунікаційних та радіотехнічних систем;

– ПК-14 Готовність до вивчення науково-технічної інформації, вітчизняного і закордонного досвіду з тематики інвестиційного (або іншого) проекту засобів телекомунікацій та радіотехніки.

Додаткові компетентності:

‒ ДК-1 Розуміння існуючих стандартів забезпечення точності вимірювань та якості роботи засобів і устаткування телекомунікацій та радіотехніки.

Результати навчання:

‒ РН-2 Вміння застосовувати базові знання основних нормативно-правових актів та довідкових матеріалів, чинних стандартів і технічних умов, інструкцій та інших нормативно-розпорядчих документів у галузі електроніки та телекомунікацій;

‒ РН-10 Здатність проводити випробування телекомунікаційних систем, інфокомунікаційних, телекомунікаційних мереж, радіотехнічних систем та систем телевізійного й радіомовлення у відповідності до технічних регламентів та інших нормативних документів;

‒ РН-11 Вміння діагностувати стан обладнання (модулів, блоків, вузлів) телекомунікаційних систем, інфокомунікаційних, телекомунікаційних мереж, радіотехнічних систем та систем телевізійного й радіомовлення тощо;

‒ РН-13 Здатність до вибору методів та інструментальних засобів вимірювання параметрів та робочих характеристик телекомукаційних систем, інфокомунікаційних, телекомунікаційних мереж, радіотехнічних систем та систем телевізійного й радіомовлення тощо.

Додаткові результати навчання:

‒ ДРН-1 Вміння обирати метод, спосіб та засіб вимірювання для здійснення максимально точного вимірювання параметрів роботи засобів і устаткування телекомунікацій та радіотехніки;

‒ ДРН-2 Вміння проводити обробку статистичної інформації, складати звіти про проведення випробувань, формувати висновки щодо проведених вимірювань.

Викладач: Малий Олександр Юрійович, к.т.н., доцент каф. ІТЕЗ;

Файл:

syllabus_of_metrologiya_imz.pdf

Ви є тут

Графік навчального процесу

Графік Чисельник/Знаменник

Розклад занять по групах

Розклад занять по викладачам

Види занять

Розклад занять факультету радіоелектроніки та телекомунікацій

Сторінки