Кафедра МВІ займає загальну площу 670 м2 з якої площа відведена під навчальні аудиторії та лабораторії складає 650 м2. Аудиторії та лабораторії оснащено необхідними стендами та поліграфічними матеріалами, навчальними посібниками та мультимедійними системами.
Ауд. 9. Загальна площа 22,6 м2. Лабораторія дослідження верстатів. В лабораторії встановлені токарні верстати для наукових досліджень та лабораторних робіт.
Ауд. 10. Загальна площа 43,6 м2. Лабораторія трибології. В лабораторії встановлені машини тертя, прилади для дослідження тертя. Також проводяться лабораторні роботи, практичні заняття, наукові дослідження.
Ауд. 13. Загальна площа 82,9 м2. Лабораторія електроерозійної обробки. Лабораторія оснащена верстатами для проведення лабораторних робіт та практичних занять.
Ауд. 147. Загальна площа 74,68 м2. Лабораторія різального інструменту. Аудиторія для проведення лабораторних робіт з дисципліни "Різальний інструмент". В аудиторії є верстати для інструментального виробництва, вимірювальні прилади, наглядні посібники різального інструменту.
Ауд. 151. Загальна площа 289,5 м2. Лабораторія металорізальних верстатів та систем. Аудиторія для проведення лекцій, практичних занять, лабораторних робіт. Аудиторія оснащена великою кількістю верстатів різних класів від універсальних до сучасних верстатів з ЧПК. Також у лабораторії знаходиться магістерський комп'ютерний клас та викладацька.
Ауд. 229. Загальна площа 62,3 м2. Комп'ютерний клас на 25 робочих місць комп’ютерів останнього покоління. Все програмне забезпечення що використовується у комп’ютерному класі ліцензійне (Компас, SolidWorks, програмні продукти Autodesk). Загальна вартість програмного забезпечення складає 1,5 млн $. Оснащена проекційною установкою.
Ауд. 157. Загальна площа 15,88 м2. Кабінет завідувача кафедри МВІ.
Ауд. 534. Загальна площа 78,66 м2. Лабораторія вимірювальних засобів. Лабораторія має велику кількість вимірювальних приладів та засобів контролю. В аудиторії проводяться лекції та лабораторні роботи з дисциплін для студентів МФ, ТФ, ІТФ факультетів.
